在軟件測(cè)試中使用自下而上方式優(yōu)于自上而下方式的好處是：（）A、界面錯(cuò)誤會(huì)被較早發(fā)現(xiàn)B、較早建立對(duì)系統(tǒng)的信心C、關(guān)鍵模塊中的錯(cuò)誤會(huì)被較早發(fā)現(xiàn)D、主要功能和過程得到較早測(cè)試
